Principes de base de la construction de couches d’abstraction logicielle et de mesure dans un système de test

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Les organisations de test dans le secteur aérospatial et défense sont constamment confrontées à des délais serrés et à des coûts de maintenance logicielle élevés. Une architecture logicielle de test à plusieurs niveaux comprenant des couches d’abstraction peut augmenter la réutilisation du code, ce qui réduit le temps nécessaire au déploiement de nouveaux systèmes de test, et limiter les efforts de maintenance logicielle, qui permet d'économiser des centaines de milliers d’euros. Dans ce white paper, vous découvrirez pourquoi les couches d'abstraction matérielle et de mesure (HAL et MAL) comptent parmi les modèles de conception les plus efficaces pour rendre le logiciel de test tout aussi évolutif que le matériel.

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Provider: National Instruments Corporation (U.K.) Ltd   |   Size: 598 KB   |   Language: French
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